近日，基于美國國度儀器(National Instruments，以下簡稱“NI”) 的PXI源丈量單位 (SMU)，專注應(yīng)用人工智能驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體測試丈量的北京博達(dá)微科技無限公司 (簡稱“博達(dá)微”) 宣告推出最新基于機(jī)械進(jìn)修的半導(dǎo)體參數(shù)化測試產(chǎn)物FS-Pro，真正將IV測試、CV測試、低頻噪聲 (1/f noise) 測試等經(jīng)常使用低頻特征丈量集成于一體，完成在單臺(tái)儀器內(nèi)完成一切測試的需求，并將測試速度晉升10倍，在低頻噪聲測試中將本來須要幾十秒的測試時(shí)光延長至5秒之內(nèi)。

現(xiàn)現(xiàn)在，因?yàn)镮oT成長迅猛，芯片量呈幾何倍數(shù)增加，摩爾定律已逐步不再實(shí)用，正如早先宣布的《NI Trend Watch 2018》引見，雖然摩爾定律的實(shí)用性再次遭到威逼，但以機(jī)械進(jìn)修、主動(dòng)駕駛為首的市場需求將連續(xù)擴(kuò)大處置才能和I/O帶寬，為推進(jìn)架構(gòu)立異供給新的機(jī)會(huì)。是以，為打破傳統(tǒng)儀器固有的局限而生，加倍面向?qū)淼闹悄軠y試計(jì)劃同樣成為半導(dǎo)體測試家當(dāng)精進(jìn)確當(dāng)務(wù)之急，而NI恰是經(jīng)由過程本身模塊化硬件的靈巧性，連續(xù)助力家當(dāng)進(jìn)階。NI亞太區(qū)副總裁ChandranNair表現(xiàn)：“我們關(guān)于博達(dá)微科技應(yīng)用 NI 最新 SMU 開辟出的智能參數(shù)測試計(jì)劃 FS-Pro 印象深入，透過博達(dá)微科技與 NI 硬件所到達(dá)優(yōu)良的準(zhǔn)確性與測試速度信任異常合適運(yùn)用于參數(shù)研討與量產(chǎn)測試上。”

集成高精度+高速+高通道數(shù)的NI SMU，助力AI算法企業(yè)成為半導(dǎo)體測試新權(quán)勢

現(xiàn)實(shí)上，這曾經(jīng)不是NI和博達(dá)微的第一次協(xié)作，2017歲首年月博達(dá)微就宣布了基于機(jī)械進(jìn)修的第一代半導(dǎo)體參數(shù)化測試產(chǎn)物FS系列，基于NI模塊化的硬件，在測試精度和敏銳度上做了兩個(gè)數(shù)目級的晉升。博達(dá)微CEO李嚴(yán)峰在NIDays2017現(xiàn)場也婉言，“從一個(gè)一年多前和測試‘絕緣’的軟件和算法公司，到以后產(chǎn)出的市場反應(yīng)度很不錯(cuò)的參數(shù)化測試裝備，個(gè)中許多都源于NI模塊化硬件平臺(tái)的靈巧性，便利我們疾速安排算法，疾速安排專家經(jīng)歷到測試體系中?！?博達(dá)微在半導(dǎo)體參數(shù)測試頂用到的NI硬件平臺(tái)恰是其SMU。

以高達(dá)10fA的電流敏銳度履行高精度丈量，在高測試速度下兼具的低噪聲丈量機(jī)能，和賡續(xù)沖破的通道數(shù)，都是NI SMU在主動(dòng)化測試和試驗(yàn)室特征剖析范疇獲得普遍運(yùn)用的緣由。另外，NI SMU玲瓏的構(gòu)成構(gòu)造和模塊化特征使其成為并行IV測試體系主要儀器，模塊化PXI平臺(tái)更可以或許贊助客戶經(jīng)由過程PXI背板觸發(fā)SMU，以同步與其他儀器的丈量，包含高速數(shù)字I/O儀器、射頻剖析儀、產(chǎn)生器、高速數(shù)字化儀。

圖1. NI 推出全新24通道高密度、高精度SMU——PXIe-4163

基于NI模塊化硬件讓AI運(yùn)用周全化，加快半導(dǎo)體參數(shù)測試是其一

應(yīng)用機(jī)械取代人類完成認(rèn)知、剖析、決議計(jì)劃等功效的AI，正在經(jīng)由過程盤算力、算法、數(shù)據(jù)量與運(yùn)用場景等重要驅(qū)動(dòng)動(dòng)力加快迸發(fā)，而AI家當(dāng)?shù)内A家勢必是那些可以或許疾速處理實(shí)體經(jīng)濟(jì)成績、晉升行業(yè)效力，乃至是推翻傳統(tǒng)貿(mào)易形式的公司。

基于以靈巧著稱的NI模塊化硬件，博達(dá)微算法團(tuán)隊(duì)將本身十年來應(yīng)用算法處置集成電路工藝浮動(dòng)仿真困難積聚的“行動(dòng)猜測”、“噪聲去除”等一系列技巧算法原型，敏捷“復(fù)制”到半導(dǎo)體測試范疇，使丈量沖破原有物理界限成為能夠，其參數(shù)化儀器一經(jīng)推出就敏捷取得市場承認(rèn)。而應(yīng)用人工智能（AI）驅(qū)動(dòng)測試的貿(mào)易價(jià)值就是更快，據(jù)悉博達(dá)微曾經(jīng)可以到達(dá)最多至10倍的效力晉升；更穩(wěn)固，經(jīng)由過程行動(dòng)預(yù)知削減誤操作和不須要的旌旗燈號；更智能，經(jīng)由過程機(jī)械進(jìn)修的智能安排讓測試儀用具備越測越快的機(jī)能晉升。“FS-Pro是業(yè)界初次把IV，CV和噪聲測試集成到單臺(tái)裝備中，無需換線客戶便可完成簡直全體低頻參數(shù)化表征，并將測試速度晉升10倍。同時(shí)，基于NI供給的模塊化架構(gòu)，用戶可以靈巧擴(kuò)大，從四通道到近百個(gè)通道，” 李嚴(yán)峰強(qiáng)調(diào)道。

圖2. 基于NI SMU，博達(dá)微推出業(yè)界首個(gè)進(jìn)修算法驅(qū)動(dòng)的高精度半導(dǎo)體參數(shù)一體化測試體系FS-Pro

從連續(xù)推出更高通道數(shù)的SMU，在統(tǒng)籌半導(dǎo)體測試機(jī)能的同時(shí)連續(xù)贊助客戶下降測試本錢和時(shí)光便可以看出NI在半導(dǎo)體測試范疇的長線投入。Chandran Nair強(qiáng)調(diào)：“NI將來在技巧與市場方面將會(huì)自始自終的年夜力支撐博達(dá)微，連續(xù)為半導(dǎo)體范疇的客戶供給更疾速、更穩(wěn)固、更智能的參數(shù)化測試計(jì)劃?！?/p>